Analizador elemental EDXRF de sobremesa EDX2000 marca Koehler

Cumple con las especificaciones de:

ASTM D4294, D5059, D6481, ISO 20847, ISO 8754, IP 496, IP 336,  JIS K 2541-1

Excitación:

• Tubo de rayos X de 50 kV
• Potencia máxima 4W
• 6 posiciones de filtro de tubo con óptica
• Protección contra derrames / contaminación

Detección:

• Detector de semiconductores de deriva de silicio de alto rendimiento
• Refrigeración termoeléctrica Peltier
• Alta resolución espectral y tasa de conteo

Límites de detección (LLD):

• Azufre: 2 ppm en aire (1,3 ppm en He)
• Níquel: 1,5 ppm
• Vanadio: 0,6 ppm
• Plomo: 0,0003 g / L

Cámara de muestra:

• Cámara de muestras grande de 190 x 165 x 60 mm
• Apertura de muestra de una posición de 32 mm
• Apertura de muestra de una posición de 40 mm
• Apertura de muestra a granel

Interfaz de usuario:

• Interfaz de pantalla táctil WVGA de 8 «
• Computadora integrada
• Impresora Térmica Interna
• Conexiones USB y Ethernet

Condiciones ambientales:

• Temperaturas ambiente 10 – 35 ° C (50 – 95 ° F)
• Humedad relativa <85% sin condensación
• Vibración indetectable por humanos
• Libre de gases, polvo y partículas corrosivas.