Analizador elemental EDXRF de sobremesa EDX3000 marca Koehler

Cumple con las especificaciones de: 

ASTM D4294, D5059, D7220, ISO 20847, ISO 8754, IP 496, IP 336,  JIS K 2541-1. Se correlaciona con ASTM D2622

Excitación:

• Tubo de rayos X de 50 kV con ánodo de Pd
• 50W de potencia máxima
• 4 Polarización estándar y objetivos secundarios según la aplicación,
• para una excitación óptima
• Quinto objetivo opcional para la excitación óptima de Na y Mg

Detección:

• Detector de semiconductores de deriva de silicio de alto rendimiento
• Refrigeración electrónica Peltier
• Equilibrio óptimo de resolución espectral y alta tasa de conteo

Límites de detección (LLD):

1. Azufre: 0,54 ppm
2. Cloro: 0,3 ppm
3. Plomo: 0,0002 g / L
4. Níquel y vanadio: 1 ppm
5. Hierro: 2 pp,

Cámara de muestra:

• Gran diámetro de 38 cm. Cámara de muestras de 10 cm de profundidad para muestras a granel
• Cambiador de muestras automático de 15 posiciones (vasos de muestra de 32 mm)
• Análisis en aire, purga de helio o vacío disponible

Interfaz de usuario (computadora):

• Sistema informático externo para PC que incluye: teclado y mouse del sistema operativo Microsoft Windows Vista, monitor, impresora

Condiciones ambientales:

• Temperaturas ambiente 18-28 ° C (65-82 ° F)
• Humedad relativa <75%
• Vibración indetectable por humanos
• Libre de gases, polvo y partículas corrosivas.